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高低溫測(cè)試儀注意事項(xiàng) |
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| 時(shí)間：2012-9-14 8:05:49 |
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高低溫測(cè)試儀適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元?dú)饧诟叩蜏鼗驖駸岘h(huán)境下、檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。
一、高低溫測(cè)試儀設(shè)備僅適合高溫+130℃，低溫-40℃范圍內(nèi)的產(chǎn)品試驗(yàn)。
二、禁止易爆、易燃及高腐蝕物質(zhì)的試驗(yàn)。
三、高低溫測(cè)試儀工作于0℃以下時(shí)，應(yīng)避免打開箱門，否則造成箱內(nèi)蒸發(fā)器等部位產(chǎn)生結(jié)霜結(jié)冰，降低本機(jī)使用效率。
四、試驗(yàn)中，除非絕對(duì)必要切勿打開箱蓋，否則可能會(huì)引起人身傷害、系統(tǒng)誤動(dòng)作，可能會(huì)導(dǎo)致系統(tǒng)PID誤解，觸發(fā)超溫保護(hù)。
五、高低溫測(cè)試儀工作環(huán)境中的塵埃和腐蝕性氣體亦可以影響機(jī)械系統(tǒng)的靈活性、降低各種限位開關(guān)、按鍵、光電偶合器的可靠性，也是造成必須學(xué)部件鋁膜銹蝕的原因之一。
六、高低溫測(cè)試儀由于變溫快，一般最好不要加上濕度，以免對(duì)機(jī)器產(chǎn)生影響。 |
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